Plus de détails à basse tension
- Détectez des structures nanoscopiques à haute résolution et fort contraste à basses tensions d’accélération.
- A 500 V, vous imagez des structure de 1.2 nm, à 1 kV vous obtenez 1.1 nm de résolution. Vous obtiendrez des images de qualité, tout le temps, sans avoir besoin de polariser l’échantillon.
- Profitez de la rapidité des réglages grâce à la technologie Gemini.
Plus de signal
- Le nouveau design de la lentille objectif de GeminiSEM 500 vous permet d’améliorer l’efficacité de détection. Il multiplie le signal des électrons secondaires dans la colonne par 20 comparé au design de la colonne Gemini classique.
- Soyez plus efficaces et obtenez un maximum d’information de vos échantillons.
- Réduisez votre temps pour imager vos échantillon ou travaillez à très faible courant pour minimiser les dommages sur vos échantillons.
Plus de flexibilité avec le mode Pression Variable
- Travaillez en mode pression variable (VP) comme si vous travailliez en mode haut vide.
- Utilisez la détection en colonne en pression variable. Acquérez des images en haute résolution, à fort contraste et fort rapport signal sur bruit.
- Capturez, dès à présent, des images nettes, même de vos échantillons les plus complexes tels les échantillons non conducteurs.
Basé sur la technologie éprouvée Gemini
- Le design de la lentille objectif Gemini combine un champ magnétique et électrostatique pour maximiser les performances optiques tout en réduisant au minimum les influences des champs au niveau de l’échantillon. Ceci entraine une qualité d’imagerie, même sur des échantillons difficiles comme dans le cas de matériaux magnétiques.
- Le concept de la détection dans la colonne assure une détection efficace en imageant les électrons secondaires et/ou rétrodiffusés, réduisant ainsi le temps pour obtenir une image.
- La technologie du “beam booster” garanti des tailles de sonde réduites et des forts rapports signal sur bruit.
Plus de détail. Plus de signal.
- GeminiSEM 500 est fourni avec une optique électronique inédite: la nouvelle lentille “Nano-twin” permet d’améliorer la résolution à basses tensions.
- Le signal sur le détecteur dans la colonne est multiplié par un facteur 20 dans des conditions basses tensions. Vous obtiendrez toujours des images nettes rapidement et un minimum de dommages sur l’échantillon.
- Le mode du canon “high résolution” minimise les aberrations chromatiques et permet des tailles de sondes encore plus petites.
GeminiSEM 300 est le choix idéal pour l’imagerie de grands champs avec une excellente qualité d’image et temps rapide à l’image. Avec l’optique Gemini vous pouvez compter sur une détection efficace, une excellente résolution et, de grands champs sans distorsion.
Profitez de la nouvelle conception optique qui est adapté à l’imagerie à basse tension, même pour les échantillons difficiles, tels que les matériaux sensibles au faisceau ou magnétiques. Caractériser votre échantillon globalement: obtenez un contraste unique du matériaux à basse tension avec le détecteur de d’électrons rétrodiffusés sélectif en énergie. Utiliser le mode NanoVP: imagez des spécimens non-conducteurs à haute résolution avec une excellente sensibilité de surface avec le détecteur Inlens SE à des pressions plus élevées.
Plus de détail. Plus de flexibilité.
- Réduisez les charges sur les échantillons isolants.
- La technologie NanoVP réduit l’élargissement du faisceau et permet donc d’imager des échantillons à haute résolution et la détection annulaire dans la colonne jusqu’à 150 Pa.
- Ainsi, les détecteurs SE Inlens et EsB peuvent être utilisés, simultanément, en mode VP pour l’imagerie de surface et de contrastes de matériaux en haute résolution.
- La pression peut même être augmentée jusqu’à 500 Pa, en utilisant le détecteur VPSE dans la chambre pour vos échantillons les plus exigeants.
ZEISS Atlas 5 – Maîtrisez l’imagerie Multi-échelle
Atlas 5 vous simplifie la vie: créez des images multi-échelles, multimodales avec un environnement logiciel qui met votre échantillon au centre du workflow de travail. Atlas 5 est une suite logicielle et matérielle qui étend les capacités de votre MEB ZEISS.
3D Surface Modelling – 3DSM
Votre MEB mesure et analyse n’importe quel échantillon en 2D; pour étudier la surface de l’échantillon en 3D, utilisez le module 3DSM. 3DSM, une application ZEISS vour fournit des information topographiques par la reconstruction d’un modèles 3D complet de la surface à partir des signaux du détecteur AsB de votre MEB.