,

Delphi-X Observer métallurgique


Microscope de pointe pour applications avancées des Sciences de matériaux

La conception ergonomique et les objectifs de pointe exceptionnels font du Delphi-X Observer le microscope idéal pour les applications des matériaux les plus avancées. Le champ de vision des oculaires de 25 mm et les objectifs plan apochromatiques permettent des observations avec un rendu de couleurs parfait et un pouvoir de résolution élevé

Want create site? Find Free WordPress Themes and plugins.
  • Fond clair et Epi-éclairage en Fond Noir
  • DIC Normarski (optionnel)
  • Système optique amélioré corrigé à l’infini EIS
  • Objectifs à contraste très élevé et aberrations minimes
  • Objectifs EIS Apochromatique, Semi- Apo et Plan
  • Oculaires Super Grand champ SWF 10x/25mm
  • Eclairage halogène 100 W
  • Révolver inversé sextuple avec logement pour DIC

OCULAIRES
• Super Grand champ SWF 10x/25 mm, tubes Ø 30 mm
• Grand champ étendus EWF 10x/22 mm, tubes Ø 30 mm (optionnel)

TÊTE STANDARD
Trinoculaire Siedentopf avec tubes inclinés à 30 °. Distance interpupillaire réglable entre 47 et 78 mm. La tête standard trinoculaire a un sélecteur de chemin optique (100: 0 / 80:20 / 0: 100). Réglage dioptrique sur les deux oculaires

TÊTE INCLINABLE ERGONOMIQUE
Tête trinoculaire ergonomique en option, inclinable de 0 à 35 °, dotée d’oculaires SWF 10x / 25 mm, distance interpupillaire de 47 à 78 mm et phototube avec tube standard de Ø 23,2 mm. La tête inclinée trinoculaire est dotée d’un sélecteur de chemin optique (100: 0 / 80:20 / 0: 100). Réglage dioptrique ± 5 sur les deux oculaires

RÉVOLVER
Révolver inversé sextuple sur roulement à billes avec filetage de montage d’objectifs de 25 mm

SYSTÈME À L’INFINI AMÉLIORÉ (EIS)
Le système à l’infini amélioré (EIS) du Delphi-X Observer ™ se compose d’oculaires SFWF 10 x 25 mm à champ très large, d’objectifs parafocaux à grande ouverture numérique de 45 mm et  d’une longueur focale de 200 mm. Les objectifs de longueur focale de 200 mm réduisent l’angle des rayons lumineux traversant l’optique et permettent ainsi d’améliorer de manière significative les corrections et le contraste de l’aberration chromatique. Les objectifs avec un diamètre plus grand permettent des ouvertures numériques beaucoup plus hautes améliorant ainsi le pouvoir de résolution global du système optique.

Pour toutes ces raisons, Delphi-X Observer ™ offre des performances optiques supérieures pour les applications les plus exigeantes

OBJECTIFS
Les objectifs EIS corrigés à l’infini suivants sont fournis ou disponibles avec le Delphi-X Observer ™:

Plan Semi-Apo (SAMi)

5x/0.15

10x/0.30

20x/0.45

Plan Apo (PLAMi)

50x/0.80

100x/0.90*

Plan (PLMi)

2x/0.06*

* Optionnel
Tous les objectifs sont parafocaux à 45 mm et ont un filetage de montage M25 mm. Toutes les optiques ont un traitement antifongique et une couche antireflet pour un flux lumineux maximal

PLATINE
• Large platine de 215 x 170 mm avec platine mécanique intégrée de 105 x 105 mm avec commande à droite
• La hauteur de la platine peut être réduite pour les échantillons de grande taille (taille d’échantillon standard de 1 à 28 mm, abaissée à une taille d’échantillon de 55 mm)

Pour une ergonomie optimale, la hauteur de la platine peut être réduite d’un pouce tout en maintenant la hauteur standard de l’échantillon, à l’aide de l’accessoire de rabaissement du révolver (DX.9887)

Dispositif de  rabaissement du révolver

Élévateur de niveau des oculaires
L’élévateur de niveau des oculaires peut augmenter la hauteur du point de vision de 2,54 mm (DX.9885)

MISE AU POINT
Mise au point macro-micrométrique coaxiale, 100 graduation, précision à 1 µm, 100 µm par rotation, plage totale de déplacement d’environ 35 mm. Butée de protection réglable pour la protection des objectifs et de l’échantillon. Le réglage macrométrique est équipé d’un contrôle de la friction. Les boutons de mise au point peuvent être changés de gauche à droite selon les préférences de l’utilisateur

CONDENSEUR À GRANDE DISTANCE DE TRAVAIL
Condenseur O.N 0.65 à grande distance de travail réglable en hauteur (10.2mm) avec repères d’ouverture numériques facilitant le réglage

ECLAIRAGE
The microscope Delphi-X Observer pour les sciences de matériaux est doté d’un éclairage Episcopique et diascopique halogène 100W d’intensité réglable avec une alimentation interne de 100-240 Vac. L’éclairage halogène diascopique est doté de deux filtres escamotables d’intensité neutre pour atténuer en douceur l’intensité de la lumière pour tous types d’échantillons Le microscope est livré en standard avec un analyseur et un polariseur qui peuvent facilement être insérés dans les fentes libres de l’Epi-éclairage pour des images polarisées de haute qualité. De plus, une cassette rotative est implémentée pour passer rapidement du fond noir, au fond clair et au fond clair atténué

DIC NORMARSKI (optionnel)
Grâce à la conception du module DIC la visualisation des différences de hauteurs ne pouvant pas être normalement visualisée en fond clair a considérablement été améliorée. Ces images en relief sont idéales pour les inspections de surface de wafers, écrans LCD, etc

CAPTEUR ICARE
Le capteur unique iCare est développé pour éviter les pertes d’énergie inutiles. L’éclairage du microscope s’éteint automatiquement peu de temps après que les microscopistes se soient éloignés de leur position

POIGNÉE DE TRANSPORT
La poignée de transport à l’arrière du microscope garantit son déplacement en toute sécurité. L’outil et son support intégré dans la partie postérieure de l’appareil garantissent la disponibilité du bon outil en permanence

CONTENU DE L’EMBALLAGE
Fourni avec cordon d’alimentation, une housse de protection, un fusible de rechange, un manuel d’utilisation et un outil universel. Le tout emballé dans un coffret en polystyrène

Did you find apk for android? You can find new Free Android Games and apps.
×
Vous souhaitez être rappelé ?
Demande de démonstration

    X
    Demande de démonstration