Microscopes électroniques à balayage

MERLIN doté de la colonne GEMINI II combine en un seul et même système une analyse ultra-rapide, l’imagerie à haute résolution en utilisant des modes de détection avancés et une souplesse de configuration permettant de faire face aux futures évolutions.

Grâce à l’optique GEMINI II pré-alignée, les paramètres d’imagerie tels que la tension ou le courant de sonde peuvent être ajustés en continu sur l’ensemble de la gamme afin de s’adapter parfaitement à votre application et à votre échantillon sans qu’aucun réalignement ne soit nécessaire. Même les utilisateurs novices obtiendront des résultats optimaux. L’optimisation du système pour une haute densité de courant, des courants de sonde jusqu’à 300 nA et une résolution supérieure aux courants de faisceau élevés garantissent des résultats rapides en nano-analyse.

Recevez un maximum d’informations de votre échantillon avec la détection en parallèle d’électrons secondaires (SE) dans l’axe intégrée dans la colonne et la détection des électrons rétrodiffusés avec sélection d’énergie (EsB) capable d’identifier les plus petites différences dans la composition des matériaux.

Grâce à la conception modulaire de sa chambre, aux plus de 15 ports et à une multitude de modules spécifiques aux applications, y compris la microscopie à force atomique (AFM), l’ultra-microtomie in-situ, la cartographie de grandes surfaces et la compensation locale de la charge pour une imagerie simplifiée des échantillons non conducteurs, votre MERLIN est fourni avec la souplesse nécessaire pour évoluer avec vos applications depuis un microscope électronique à balayage jusqu’à un laboratoire de nano-caractérisation complet.